La cromolitografia y el control de calidad. Nota: presentado en la semana de intercambio tecnologico, 14-19 de mayo de 1979.
dc.catalogador | VPM | en |
dc.coleccion | Colección Referencial | en |
dc.date.accessioned | 2015-07-15T15:53:02Z | |
dc.date.available | 2015-07-15T15:53:02Z | |
dc.identifier.ciren | U0841 | en |
dc.identifier.uri | https://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/19262 | |
dc.language.iso | es | en |
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dc.placeofedition | Panamá | en |
dc.publisher | PANAMA, S.E., 1979. 6P. | en |
dc.source.ubicacionfisica | U0841 | en |
dc.subject | Especialidades cartográficas | en |
dc.subject | Cartografía y sensores remotos | en |
dc.title | La cromolitografia y el control de calidad. Nota: presentado en la semana de intercambio tecnologico, 14-19 de mayo de 1979. | en |
dc.type | Libro | en |