La cromolitografia y el control de calidad. Nota: presentado en la semana de intercambio tecnologico, 14-19 de mayo de 1979.

Simple item page
dc.catalogadorVPMen
dc.coleccionColección Referencialen
dc.date.accessioned2015-07-15T15:53:02Z
dc.date.available2015-07-15T15:53:02Z
dc.identifier.cirenU0841en
dc.identifier.urihttps://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/19262
dc.language.isoesen
dc.notasLa Ley de Propiedad intelectual N°17.336, cap. V, Art. 18b, nos impide reproducir obras de terceros, por lo que el presente estudio se encuentra disponible solamente para consulta en sala en el CEDOC de CIREN. El horario de atención es de lunes a viernes de 8:30 a 17:30 hrs. en Av. Manuel Montt 1164, Providencia Santiago, Chile. Fono: 56-222008978, mail: cedoc@ciren.cl.en
dc.placeofeditionPanamáen
dc.publisherPANAMA, S.E., 1979. 6P.en
dc.source.ubicacionfisicaU0841en
dc.subjectEspecialidades cartográficasen
dc.subjectCartografía y sensores remotosen
dc.titleLa cromolitografia y el control de calidad. Nota: presentado en la semana de intercambio tecnologico, 14-19 de mayo de 1979.en
dc.typeLibroen
Files
Collections
Colección Referencial