Super wide angle tests reichenbach, etc. O.e.e.páginase. Paper.

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dc.catalogadorNRen
dc.coleccionColección Referencialen
dc.date.accessioned2015-07-15T15:59:02Z
dc.date.available2015-07-15T15:59:02Z
dc.identifier.ciren3323en
dc.identifier.urihttps://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/24130
dc.language.isoenen
dc.notasLa Ley de Propiedad intelectual N°17.336, cap. V, Art. 18b, nos impide reproducir obras de terceros, por lo que el presente estudio se encuentra disponible solamente para consulta en sala en el CEDOC de CIREN. El horario de atención es de lunes a viernes de 8:30 a 17:30 hrs. en Av. Manuel Montt 1164, Providencia Santiago, Chile. Fono: 56-222008978, mail: cedoc@ciren.cl.en
dc.placeofeditionHolandaen
dc.publisherHolanda, ITC, S. F. 20P. (ITC, 1034)en
dc.source.ubicacionfisicaI088s 3323en
dc.subjectFotografías aéreasen
dc.subjectMetodologíaen
dc.subjectCartografía y sensores remotosen
dc.titleSuper wide angle tests reichenbach, etc. O.e.e.páginase. Paper.en
dc.typeLibroen
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Colección Referencial