Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.

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dc.catalogadorIVECen
dc.coleccionRevistas de Recursos Naturales de Chileen
dc.contributor.authorHampp, Eugenio Ricardoen
dc.date2004
dc.date.accessioned2015-05-18T19:00:19Z
dc.date.available2015-05-18T19:00:19Z
dc.date.issued2004en
dc.description.abstractLa Difractometría de Rayos X (DRX) es el método más efectivo para la determinación y reconocimiento de materiales cristalinos en suelos. Sin embargo, la obtención de difractogramas bien definidos es normalmente dificultosa en ciertos suelos de contenidos de arcilla relativamente bajos.en
dc.formatDOCen
dc.fuenteEn: XVI Congreso Latinoamericano y XII Congreso Colombiano de la ciencia del suelo sobre “Suelo, ambiente y seguridad alimentaria”, organizado por la Sociedad Colombiana de la Ciencia del Suelo (SCCS), Cartagena de Indias Septiembre 26 a Octubre 1 de 2004.en
dc.identifier.urihttps://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/29103
dc.language.isoesen
dc.pages5 páginas.en
dc.placeofeditionCartagena de Indiasen
dc.source.ubicacionfisicaBTEL-CFB-CD-029en
dc.subjectDifractometría de Rayos Xen
dc.subjectCristalesen
dc.subjectSuelosen
dc.subjectMetodologíaen
dc.subjectArcillaen
dc.subject.encabezamientoRecursos del sueloen
dc.titleAlternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.en
dc.typeArtículo de revistaen
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10-02 ALTERNATIVAS EN PRETRATAMIENTOS DE ARCILLAS DE SUELOS .doc
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Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de rayos X
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