Hampp, Eugenio Ricardo2015-05-182015-05-182004https://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/29103La Difractometría de Rayos X (DRX) es el método más efectivo para la determinación y reconocimiento de materiales cristalinos en suelos. Sin embargo, la obtención de difractogramas bien definidos es normalmente dificultosa en ciertos suelos de contenidos de arcilla relativamente bajos.DOCesDifractometría de Rayos XCristalesSuelosMetodologíaArcillaAlternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.Artículo de revistaRecursos del suelo