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Para más antecedentes contactarse al fono 56-2-22008978, mail cedoc@ciren.cl o visitando nuestra Biblioteca en Manuel Montt 1164, Providencia Santiago Chile”
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Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.
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Autor(es) personal(es):
Materia(s):
Palabra(s) clave(s):
Fecha:
2004
Tipo de documento:
Ubicación física:
BTEL-CFB-CD-029
Resumen:
La Difractometría de Rayos X (DRX) es el método más efectivo para la determinación y reconocimiento de materiales cristalinos en suelos. Sin embargo, la obtención de difractogramas bien definidos es normalmente dificultosa en ciertos suelos de contenidos de arcilla relativamente bajos.
Colección:
Revistas de Recursos Naturales de Chile
Hampp, Eugenio Ricardo. 2004. Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X. https://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/29103