Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.


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Fecha:
2004
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BTEL-CFB-CD-029
Resumen:
La Difractometría de Rayos X (DRX) es el método más efectivo para la determinación y reconocimiento de materiales cristalinos en suelos. Sin embargo, la obtención de difractogramas bien definidos es normalmente dificultosa en ciertos suelos de contenidos de arcilla relativamente bajos.
Colección:
Revistas de Recursos Naturales de Chile
Hampp, Eugenio Ricardo. 2004. Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X. https://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/29103